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搜尋結果：找到 28032 筆資料

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工業標準
搜尋結果

【組　　織】DIN
【文件編號】VG 95371-10
Electromagnetic compatibility (EMC) including electromagnetic pulse (EMP) and lightning protection - Fundamentals - Part 10: Threat levels for NEMP and lightning; Text in German and English
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English; German
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN CEN ISO/TS 17444-1
Electronic fee collection - Charging performance - Part 1: Metrics (ISO/TS 17444-1:2017); English version CEN ISO/TS 17444-1:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN CEN ISO/TS 17444-1
Electronic fee collection - Charging performance - Part 1: Metrics (ISO/TS 17444-1:2017); English version CEN ISO/TS 17444-1:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN CEN ISO/TS 17444-2
Electronic fee collection - Charging performance - Part 2: Examination framework (ISO/TS 17444-2:2017); English version CEN ISO/TS 17444-2:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN CEN ISO/TS 17444-2
Electronic fee collection - Charging performance - Part 2: Examination framework (ISO/TS 17444-2:2017); English version CEN ISO/TS 17444-2:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN EN ISO 16407-1
Electronic fee collection - Evaluation of equipment for conformity to ISO 17575-1 - Part 1: Test suite structure and test purposes (ISO 16407-1:2017); English version EN ISO 16407-1:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN EN ISO 16407-1
Electronic fee collection - Evaluation of equipment for conformity to ISO 17575-1 - Part 1: Test suite structure and test purposes (ISO 16407-1:2017); English version EN ISO 16407-1:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN EN ISO 16410-1
Electronic fee collection - Evaluation of equipment for conformity to ISO 17575-3 - Part 1: Test suite structure and test purposes (ISO 16410-1:2017); English version EN ISO 16410-1:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN EN ISO 16410-1
Electronic fee collection - Evaluation of equipment for conformity to ISO 17575-3 - Part 1: Test suite structure and test purposes (ISO 16410-1:2017); English version EN ISO 16410-1:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

【組　　織】DIN
【文件編號】DIN EN ISO 25110
Electronic fee collection - Interface definition for on-board account using integrated circuit card (ICC) (ISO 25110:2017); English version EN ISO 25110:2017
【日　　期】2018/2/1
【語　　言】English
【狀　　態】Active

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