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組織／文章編號
IEEE
搜尋結果：找到 1507 筆資料

頁面路徑選單

  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 2600.4

  • Protection Profile for Hardcopy Devices in IEEE Std 2600-2008 Operational Environment D - IEEE Computer Society

  • 【日　　期】2010/2/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE C95.1A

  • Safety Levels with Respect to Human Exposure to Radio Frequency Electromagnetic Fields, 3 kHz to 300 GHz Amendment 1: Specifies Ceiling Limits for Induced and Contact Current, Clarifies Distinctions between Localized Exposure and Spatial Peak Power Densit

  • 【日　　期】2010/2/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 115

  • Guide for Test Procedures for Synchronous Machines Part I-Acceptance and Performance Testing Part II-Test Procedures and Parameter Determination for Dynamic Analysis

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 1142

  • Guide for the Selection, Testing, Application, and Installation of Cables having Radial-Moisture Barriers and/or Longitudianal Water Blocking

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 1680

  • IEEE Standard for Environmental Assessment of Electronic Products - IEEE Computer Society

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 1481

  • Integrated Circuit (IC) Open Library Architecture (OLA) - IEEE Computer Society

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 2600.2

  • Protection Profile for Hardcopy Devices in IEEE Std 2600-2008 Operational Environment B - IEEE Computer Society

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 2600.3

  • Protection Profile for Hardcopy Devices in IEEE Std 2600-2008 Operational Environment C - IEEE Computer Society

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 433

  • Recommended Practice for Insulation Testing of AC Electric Machinery with High Voltage at Very Low Frequency

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active
  • 【組　　織】IEEE
  • 【文件編號】IEEE 1149.7

  • Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture - IEEE Computer Society

  • 【日　　期】2009/12/1
  • 【語　　言】English
  • 【狀　　態】Active